TH2825A係列LCR數字電橋
簡要介紹
TH2825A 型高速LCR數字電橋是重點推出的新一代元件參數測試儀器。該產品可提供高達15ms/次的測量速度、50Hz100kHz十點測試頻率、以1mV 步進的0.01V-1.0V可編程信號電平、5位讀數分辨率、多種源內阻選擇和強大的測試功能,可滿足生產線質量保證、進貨檢驗及元件設計和評估的測量要求。
本產品運用了元件測試領域的*新技術，測試能力可達到甚至超越Agilent4363B的水平，提供了的*高測量速度15ms/次，尤其是解決了長期困擾測試部門低頻測試速度慢的難題，為低頻元件如電解電容器、變壓器的高速測試提供了解決方案。
不同LCR表由於輸出阻抗的不同可能得到不同的測試結果，TH2825A提供五種可選的阻抗模式以適應不同的需要，保證不同儀表間測試結果的一致性。
陶瓷電容器（MLCC）對測試信號電平極為敏感，TH2825A能以恒定的高電平測試信號高速測量大容量陶瓷電容器，允許在恒定1kHz/1Vrms條件下對高達30μF的MLCC進行測試，100Hz測量可對300μF電容器提供恒定的1Vrms測試信號。
TH2825A 具備變壓器測試能力，使用專門的變壓器測試夾具，無須改變測試線方式便可方便地測量匝數比（N，1/N）、互感（M）、初次級電感（LA、LB），初次級 直流電阻（DCR2）。有-5V-5V偏置電壓（僅TH2825A），可方便地用於通訊變壓器和小功率扼流圈的測試。
該產品提供的HANDLER、GPIB接口及GPIB接口命令與Agilent與知名儀表的接口兼容性
性能特點
■ 超高速測量：15ms(測試頻率≥100Hz時)
■ 大型LCD(240×64點陣)顯示
■ 人性化引導式操作界麵
■ 50Hz－100kHz, 10個典型測試頻率
■ 10mVrms—1.0Vrms可編程測試電平
■ 內部DC偏流源*大可達200mA（使用25Ω內阻）
■ 的負載校準功能
■ 4種可選源阻抗模式，便於兼容不同LCR表的測試一致性
■ 4點頻率/電平/偏流列表掃描功能
■ 變壓器參數測量能力
■ 12組內部儀器設定儲存
■ 內建9檔比較器，分選及檔計數
■ 具有良品/不佳品（Hi/Go/Low）警示聲響判定功能
■ 測試電平V/I監視功能
■ 與Agilent 4263B兼容的Handler接口
■ 與Agilent4263B兼容的IEEE-488控製命令
技術參數
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TH |
TH2825A |
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顯示器 |
240x64點陣LCD顯示器，5位讀數分辨率 |
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測試參數 |
LCR參數 |
|Z|,R,X,G,B,C,L,Q,D,θ(deg),θ(rad),DCR |
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變壓器參數 |
DCR，DCR2，M,N，1/N，LA，LB |
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測試頻率 |
50Hz,60Hz,100Hz,120Hz,1kHz,10kHz,20kHz,40kHz,50kHz,100kHz,共10點 |
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測試電平 |
10mVrms-1.0Vrms,1mV步進＜200mV10mV步進≥200mV |
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信號源內阻 |
25Ω，100Ω，25Ω/100Ω，C.V.（恒壓） |
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DC偏置電流（≥1kHz） |
當100Ω內阻時，±50mAMax當25Ω內阻時，±200mAMax |
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基本測量準確度 |
0.1% |
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顯示範圍
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|Z|,R,X |
0.01mΩ—99.99MΩ |
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G,B |
0.0001μS—999.99S |
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C |
0.001pF—1.9999F |
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L |
0.001μH—99.9999kH |
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Q |
0.0001—9999 |
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D |
0.0001—9999 |
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θ(DEG) |
-180.00°—180.00° |
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θ(RAD) |
-3.1415—3.1415 |
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Δ% |
-999.99%—999.99% |
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TurnsRatio |
0.001—9999.9 |
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DCR |
0.1mΩ—99.99MΩ |
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M,L2 |
0.001μH—99.99kH |
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測量速度（≥100Hz） |
快速:15ms（注1）,中速:66ms,慢速:500ms |
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等效電路 |
串聯,並聯 |
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量程方式 |
自動,保持/手動切換 |
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觸發方式 |
內部,手動,外部，總線 |
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平均次數 |
1—255 |
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校準功能 |
開路,短路,負載校正 |
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測量端 |
5端 |
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顯示方式 |
直讀,ΔABS,Δ%,V/I(電壓/電流監示),檔號及檔計數 |
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列表掃描 |
4點頻率,電平列表掃描測試 |
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比較器功能 |
九檔（八檔合格，一檔不合格） |
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上超/合格/下超比較器 |
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存儲器 |
12組內部儀器設定供存儲/調用 |
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接口 |
RS-232C,HANDLER,GPIB(選件) |
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4263B完全兼容，為與4263B的互換提供了良好的條件。 |
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注1：快速測試時間包括A/D、計算、主/副參數小字符顯示比較判彆。若包括測試參數大字符顯示，*快測試時間另加5ms。 |
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