WGZ.933型濁度計
WGZ.933型濁度計，采用標準的紅外散射光檢測技術在線測量汙水濁度。儀表能夠自動補償電壓波動、器件老化、溫度變化以及汙泥顏色的變化，提供長期可靠的測量結果。此外，傳感器帶有空氣吹掃清洗功能，通過外接壓縮空氣可以實現儀表的自動定時清洗。
測RO（反滲透）係統進水的汙染趨勢一直都是一項必不可少的工作。通常，隻有當RO膜需要清洗時，人們才會意識到汙染問題的存在，但是這已經造成了損失嚴重的停機事件，還有更嚴重的後果就是需要更換十分昂貴的膜。
工業中已經采用了幾種方法來測量進水的汙染趨勢，例如：濁度、顆粒計數和汙染指數（SDI）測量等等。由於濁度和顆粒計數測量的工作方法是采用光學原理，對於不感光的膠體和微粒則無法檢測，因此並不能直接測量懸浮液中微粒造成的汙染即對膜的“淤塞能力”，用它們來判斷汙染趨勢是非常困難的。
而SDI監測方法直接測量汙染趨勢，ASTM D4189-95中規定SDI測量方法是測定在一定壓力和標準間隔時間內，一定體積的水樣通過微孔過濾器（0.45μm）的阻塞率。
通常，RO（反滲透）係統在進口原水的SDI值小於1的情況下操作數年都冇有問題；若在原水SDI值小於3情況下操作，則數月無需清洗膜。然而，在原水SDI值為3～5下操作的係統，則要經常清洗膜，這樣的係統通常不能正常工作。SDI值大於5的原水，根本不能用於RO的進水。因此，準確而及時地監測RO進水的SDI是非常必要的。
然而，人工SDI測量是一種既乏味又耗時的工作。
AT SDI TM汙染指數自動測定儀可以自動、連續地監測RO進水的汙染指數，並能將數據及時上傳至監控終端，操作者能夠快速地、準確地檢測反滲透預處理係統的效果，從而使SDI汙染指數檢測不再煩瑣、*大程度地減少人工監測的誤差，保證RO係統的正常運行。
AT SDITM使用了ASTM D4189-95裡說明的標準測試方法，以每5、10和15分鐘的間隔來計算SDI。對像井水、過濾水和澄清過的低濁度（<1.0NTU）的水也能測定。
AT SDITM的計算公式如下：
SDIn =（1-t0/tn）×100/n
SDI 汙染指數（樣水壓力30psi，測試過程溫差不超過1°C的條件下）
n 測試（膜過濾樣水）時間，一般取第5、10、15分鐘
t0 測試開始時（即n=0時），過濾得到一定體積樣水所需的時間
tn 測試開始n分鐘後（膜過濾第n分鐘），過濾得到上述相同體積樣水所需的時間
技術參數
測定範圍：0.2～6.67(SDI15min)
度：±0.2(SDI15min)
膜前壓力：0.207Mpa
顯示麵板：7吋觸摸屏
水樣容器：500mL
微孔濾器：φ47mm
濾膜規格：P45U60×6標準卷膜，0.45μm，90次/卷以上測試次數
防護等級：IP54
電源：DC24V
總裝機功率：73.5W
運行功率：<42W
使用環境溫度：5～45℃
使用環境濕度：10～95% RH（無凝結水）
重量：100Kg
樣品條件：40～75psi，5～45℃，
*小流量：1500 ml/min
外形尺寸：主機850×600×300mm
連接：進水8mm軟管，出水 DN15塑料管
