ZNTEKFX66導波雷達物位計ZNTEKFX65ZNTEKFX66導波雷達物位計ZNTEKFX65ZNTEKFX66導波雷達物位計ZNTEKFX65
工作原理
雷達物位計/雷達液位計/雷達料位計/智能導波雷達物位計/智能型脈衝雷達物位計發出的高頻微波脈衝沿著探測組件（鋼纜或鋼棒）傳播，遇到被測介質，由於介電常數突變，引起反射，一部分脈衝能量被反射回來。發射脈衝與反射脈衝的時間間隔與被測介質的距離成正比,容器中存在兩種不同介質，當上麵一層的介質介電常數較小，而下麵的介質介電常數較大時，高頻微脈衝沿著探測組件傳播遇到上層介質時，由於其介電常數較小，因而有極少的能量被這一層介麵反射，而大部分能量穿透上層介質繼續向下傳播，遇到兩層的介麵時，由於下層介質的介電常數較大，因而會有較大的能量被反射回來。因而導波雷達物位計是可以測量兩種不同介質的介麵，其測量條件是上層介質不導電或其介電常數比下層介質介電常數小10以上。
1.對於蒸汽不敏感
即使在煙霧、噪音、蒸汽很強烈的情況下，測量精度也不受到影響。
2.不受介質特性變化的影響
被測介質的密度變化或介電常數的變化不會影響測量精度。
3.粘附：冇有問題
在測量探頭或容器壁上粘附介質不會影響測量結果。
4.容器內安裝物
如果采用同軸套管式的ZNTEKFX，測量完全不受容器內安裝物的影響，比如：加熱管或支撐物等。不需要特殊調試。
5.可以提供不同形式的ZNTEKFX用於不同應用：'
●纜式一用於測量液體介質或固體介質，量程可達60米
●棒式一用於測量液體介質或固體介質，量程可達6米
●同軸套管一用於測量低黏度的液體介質，不受過程條件的影響，量程可達6米
產品選型
ZNTEKFX64
特 征：帶散熱的導波雷達天線。
應 用：液體測量，高溫高壓工況，複雜過程條件。
***量程：纜：30M/棒：6M
測量精度：±10mm
過程連接：G1½A/G2A/1½NPT
探測組件材料：不鏽鋼316L/陶瓷
纜／棒直徑：Φ4mm、Φ6mm/Φ10mm
過程溫度：-40…200℃
過程壓力：-1.0…40bar
信號輸出：兩線製 4…20mA/HART
ZNTEKFX65
特 征：不鏽鋼316L/陶瓷材料天線,能耐受更高的溫度和壓力。
應 用：液體測量，高溫高壓工況，複雜過程條件。
***量程：纜：30M/棒：6M
測量精度：±10mm
過程連接：G1½A/G2A/1½NPT
探測組件材料：不鏽鋼316L/陶瓷
鋼纜直徑：Φ4mm、Φ6mm/Φ10mm
過程溫度：-200…400℃
過程壓力：真空…400bar
信號輸出：兩線製4…20mA/HART
ZNTEKFX66
特 征：多纜式導波天線結構，獲得更強的回波信號。
應 用：小介電常數液體及固體測量,複雜過程條件。
***量程：纜：30M/棒：6M
測量精度：±10mm
過程連接：G1½A/G2A/1½NPT
探測組件材料：不鏽鋼316L /PTFE
鋼纜直徑：Φ4mm/Φ8mm
過程溫度：-40…150℃
過程壓力：-1.0…40bar
信號輸出：兩線製4…20mA/HART
