產品詳情
簡單介紹：
ZNTEKFX63雷達物位計ZNTEKFX62，既適用於壁裝式，又適用於頂裝式。
對於頂裝式物位開關，改變“限位點對應頻率”大小可改變“限位點”的高低。因此“頂裝式物位開關”能方便改變“限位點”的高低；它既能用作上限點物位開關，也能用作下限點物位開關。
詳情介紹：
ZNTEKFX63雷達物位計ZNTEKFX62ZNTEKFX63雷達物位計ZNTEKFX62ZNTEKFX63雷達物位計ZNTEKFX62
LW係列電容射頻物位測控產品，采用了“電容射頻技術”、“數字實物標定技術”及“結料屏蔽技術”，解決了同類產品存在的“難以標定”、“結料失靈”的難題。品種齊全，有“物位變送”、“上、下限控製”、“單限位控製”、“兩線製”等多種功能特點的產品，也有耐溫、抗腐蝕的產品。適用於顆粒狀、粉狀物料的料位或液體的液位及油水分界麵的檢測、變送、控製或報警。
主要技術指標及特點：
儀器部分：顯示形式：物位高度（米）；設置形式：點位的對應高度（米）。
精度等級：1.0級。
防護等級：IP65。
工作環境：溫度 -20~70℃； 濕度≤90%。
電源電壓：AC 220V±10% 50Hz 或DC 24V ；功耗：≤2W。
輸出信號：4~20mA電流或0~10mA電流；一組繼電器接點輸出（觸點容量
AC 220V 3A ）。
一、工作原理
雷達物位計/雷達液位計/雷達料位計/智能導波雷達物位計/智能型脈衝雷達物位計發出的高頻微波脈衝沿著探測組件（鋼纜或鋼棒）傳播，遇到被測介質，由於介電常數突變，引起反射，一部分脈衝能量被反射回來。發射脈衝與反射脈衝的時間間隔與被測介質的距離成正比,容器中存在兩種不同介質，當上麵一層的介質介電常數較小，而下麵的介質介電常數較大時，高頻微脈衝沿著探測組件傳播遇到上層介質時，由於其介電常數較小，因而有極少的能量被這一層介麵反射，而大部分能量穿透上層介質繼續向下傳播，遇到兩層的介麵時，由於下層介質的介電常數較大，因而會有較大的能量被反射回來。因而導波雷達物位計是可以測量兩種不同介質的介麵，其測量條件是上層介質不導電或其介電常數比下層介質介電常數小10以上。
二、產品特點
1.對於蒸汽不敏感
即使在煙霧、噪音、蒸汽很強烈的情況下，測量精度也不受到影響。
2.不受介質特性變化的影響
被測介質的密度變化或介電常數的變化不會影響測量精度。
3.粘附：冇有問題
在測量探頭或容器壁上粘附介質不會影響測量結果。
4.容器內安裝物
如果采用同軸套管式的ZNTEKFX，測量完全不受容器內安裝物的影響，比如：加熱管或支撐物等。不需要特殊調試。
5.可以提供不同形式的ZNTEKFX用於不同應用：'
●纜式一用於測量液體介質或固體介質，量程可達60米
●棒式一用於測量液體介質或固體介質，量程可達6米
●同軸套管一用於測量低黏度的液體介質，不受過程條件的影響，量程可達6米
雷達物位計/雷達液位計/雷達料位計/智能導波雷達物位計/智能型脈衝雷達物位計發出的高頻微波脈衝沿著探測組件（鋼纜或鋼棒）傳播，遇到被測介質，由於介電常數突變，引起反射，一部分脈衝能量被反射回來。發射脈衝與反射脈衝的時間間隔與被測介質的距離成正比,容器中存在兩種不同介質，當上麵一層的介質介電常數較小，而下麵的介質介電常數較大時，高頻微脈衝沿著探測組件傳播遇到上層介質時，由於其介電常數較小，因而有極少的能量被這一層介麵反射，而大部分能量穿透上層介質繼續向下傳播，遇到兩層的介麵時，由於下層介質的介電常數較大，因而會有較大的能量被反射回來。因而導波雷達物位計是可以測量兩種不同介質的介麵，其測量條件是上層介質不導電或其介電常數比下層介質介電常數小10以上。
二、產品特點
1.對於蒸汽不敏感
即使在煙霧、噪音、蒸汽很強烈的情況下，測量精度也不受到影響。
2.不受介質特性變化的影響
被測介質的密度變化或介電常數的變化不會影響測量精度。
3.粘附：冇有問題
在測量探頭或容器壁上粘附介質不會影響測量結果。
4.容器內安裝物
如果采用同軸套管式的ZNTEKFX，測量完全不受容器內安裝物的影響，比如：加熱管或支撐物等。不需要特殊調試。
5.可以提供不同形式的ZNTEKFX用於不同應用：'
●纜式一用於測量液體介質或固體介質，量程可達60米
●棒式一用於測量液體介質或固體介質，量程可達6米
●同軸套管一用於測量低黏度的液體介質，不受過程條件的影響，量程可達6米