產品詳情
簡單介紹：
雷達物位計ZNTEKPS67，既適用於壁裝式，又適用於頂裝式。
對於頂裝式物位開關，改變“限位點對應頻率”大小可改變“限位點”的高低。因此“頂裝式物位開關”能方便改變“限位點”的高低；它既能用作上限點物位開關，也能用作下限點物位開關。
詳情介紹：
雷達物位計ZNTEKPS67雷達物位計ZNTEKPS67雷達物位計ZNTEKPS67
工作原理
雷達物位計發射能量很低的極短的微波脈衝通過天線係統發射並接收。雷達波以光速運行。運行時間可以通過電子部件背轉換成物位信號。一種特殊的時間延伸方法可以確保極短時間內穩定和的測量。
即使在存在虛假反射的時候，新的微處理技術和的ECHOFOX-軟件也可以準確地分析出物位回波。
通過輸入容器尺寸，可以將上空距離值轉換成與物位成正比的信號。儀表可以空倉調試。
LW係列電容射頻物位測控產品，采用了“電容射頻技術”、“數字實物標定技術”及“結料屏蔽技術”，解決了同類產品存在的“難以標定”、“結料失靈”的難題。品種齊全，有“物位變送”、“上、下限控製”、“單限位控製”、“兩線製”等多種功能特點的產品，也有耐溫、抗腐蝕的產品。適用於顆粒狀、粉狀物料的料位或液體的液位及油水分界麵的檢測、變送、控製或報警。
主要技術指標及特點：
儀器部分：顯示形式：物位高度（米）；設置形式：點位的對應高度（米）。
精度等級：1.0級。
防護等級：IP65。
工作環境：溫度 -20~70℃； 濕度≤90%。
電源電壓：AC 220V±10% 50Hz 或DC 24V ；功耗：≤2W。
輸出信號：4~20mA電流或0~10mA電流；一組繼電器接點輸出（觸點容量
AC 220V 3A ）。
安裝結構：與傳感器一體化結構。頂吊式安裝。
探極部分：普 通 型：倉內介質溫度：-20~70℃。 倉內壓力：常壓。
倉內介質：無腐蝕性，一般粘度，一般衝擊。
耐 溫 型：倉內介質溫度：-20~200℃。 倉內壓力：小於1Mpa。
倉內介質：強腐蝕，高粘度。
安裝接頭：R1.5 （ZG11/2”）管螺紋；或依據用戶要求製作。
探極長度：杆式: 0.35M~9.99M；纜式：0.50M~9.99M。
特 點：限位點以“高度”設置；既可充當兩隻物位開關，又可充當一隻上下限回差控製的物位控製器。
產品特點
1.不受溫度和壓力的影響
微波的運行幾乎不受環境溫度和壓力的影響，因此雷達物位計非常適用於複雜的過程條件。過程壓力從真空到160bar，過程溫度-40...400℃，測量冇有問題。
2.不受被測介質特性的影響
更換被測介質的成分或更換整個介質，不會影響測量結果，不需要重新調試。
3.使用頻率
ZNTEK的雷達物位計使用兩種不同的頻率範圍，因此應用範圍可以更廣。K-頻段的儀表的頻率範圍為20GHz以上。通過使用這個頻率範圍，天線可以更小，過程連接也可以更小。由於信號聚焦好，測量係統的精度更高。C-頻段的儀表采用低頻，大約6GHz。在一般情況下，天線係統上粘附介質，汙染或介質表麵產生泡沫不影響測量。
4.功能的穩定性(SIL)
雷達物位計ZNTEKPS61，62，65，67，68和69可以用於對測量性有特殊要求的應用。
5.儀表選型
ZNTEKPS60係列雷達物位計可以用於任何應用。我們可以提供不同的天線，這樣就產生不同的發射角、測量範圍和測量特性。正確的儀表選型要根據應用條件。
6.服務維護簡便
由於采用非接觸式測量，ZNTEKPS的服務和維護都非常簡便。
1.不受溫度和壓力的影響
微波的運行幾乎不受環境溫度和壓力的影響，因此雷達物位計非常適用於複雜的過程條件。過程壓力從真空到160bar，過程溫度-40...400℃，測量冇有問題。
2.不受被測介質特性的影響
更換被測介質的成分或更換整個介質，不會影響測量結果，不需要重新調試。
3.使用頻率
ZNTEK的雷達物位計使用兩種不同的頻率範圍，因此應用範圍可以更廣。K-頻段的儀表的頻率範圍為20GHz以上。通過使用這個頻率範圍，天線可以更小，過程連接也可以更小。由於信號聚焦好，測量係統的精度更高。C-頻段的儀表采用低頻，大約6GHz。在一般情況下，天線係統上粘附介質，汙染或介質表麵產生泡沫不影響測量。
4.功能的穩定性(SIL)
雷達物位計ZNTEKPS61，62，65，67，68和69可以用於對測量性有特殊要求的應用。
5.儀表選型
ZNTEKPS60係列雷達物位計可以用於任何應用。我們可以提供不同的天線，這樣就產生不同的發射角、測量範圍和測量特性。正確的儀表選型要根據應用條件。
6.服務維護簡便
由於采用非接觸式測量，ZNTEKPS的服務和維護都非常簡便。