矽材料複合測試儀SZT-5
一、概述;
SZT-4矽材料複合測試儀，是由二種矽材料測試儀器組合而成的
1、二量程的電阻測量儀器，配以手持式四針測試頭或座式測試架，可用來測量片狀，柱狀，或塊狀，電阻率
在0.01~200歐姆/厘範圍內的半導體材料。通過對恒流源的調整，可以對某些測量結果進行修整，例如對普通矽材料的測試結果要乘以0.628的探險頭修正係數，對矽材料薄層擴散和導電薄膜 “方塊電阻“ 的修正係數為4.53等均可通過調正恒流電流加以處理。
SZT－4數字式四探針測試儀，體形小巧，操作方便，量程適中，十分適於對重煉回料的分選。
2、整流法矽材料P-N極性判彆儀，配有三針手持式探頭，能對片狀或塊狀電阻率在1000-0.01歐姆/厘米的。矽材料進行極性判彆
本儀器工作環境條件為：
溫 度：18℃―25℃
相對濕度：50%－70%
工作室內應無強電場乾擾，不與高頻設備共用電源。
二、技術參數
1、測量範圍
(1)電阻率測量：
電 阻 率 0.01-200Ω-cm
方塊電阻 0.01-200Ω-口
電 阻 0.01-200.0Ω
2、數字電壓表
(1)量 程: 200mV單一量程
(2)誤 差: 讀數 ±0.2%±3字
(3)輸入電阻: >10MΩ
3、恒 流 源
(1)電流輸出: 0~10mA連續可調
(2)量 程: 1mA, 10mA
(3)誤 差: ±0.2%±3字,
4、手持式四探針測試頭
(a)探 針 間 距:1mm
(b)探針機械遊移率:±1.0%
(c)探 針 材 料:碳化鎢,φ0.
(d)壓力:*大 2Kg
(2)導電類型判彆：
可對電阻率為1000-.0.01歐姆/厘米的矽材料作導電類型測定，同時可以聲，光報警方式表示被測材料屬於”重摻”。