產品詳情
簡單介紹：
四探針測試儀SZT-2A
主機采用****的先進電路設計，所測數值更精、更快、更準（一代為傳統式電路，缺點：體積大，速度慢，元器件繁多導致影響機器壽命）。屏幕采用液晶顯示（一代為隻有數碼管顯示），手自一體（自動是標配，手動手持是自選）。
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詳情介紹：
四探針測試儀SZT-2A
1．主機采用世界**的先進電路設計，所測數值更精、更快、更準（一代為傳統式電路，缺點：體積大，速度慢，元器件繁多導致影響機器壽命）。
2．屏幕采用液晶顯示（一代為隻有數碼管顯示），手自一體（自動是標配，手動手持是自選）。
3．匹配電腦接口及軟件(有232接口和USB兩種接口)，讓操作簡便明了化（可直接連接電腦，電腦進行自動運算根據輸入指定厚度，自動比照並修正係數，使被測結果更**，數據可儲藏或刪除，利於使用方保存記錄）,此功能為選配件。
4．二代的測試架采用自動傳感裝置，接近被測物體時實行自動減速，避免了被測物體的損耗和探頭的磨損（**於國內市場上任何一款同類產品的測試架，老一代為手動）。
5. 本儀器測試電阻、電阻率、方塊電阻時，標準係數為隨選擇鍵自動運算，無需另外手工調整，省去了原儀器的諸多麻煩。
6.本儀器的*大分辨率為0.1mΩ。
7．測試探頭為鎢針，市場上多為高速鋼針。
8．每次測量均有內置計算機自動進行溫度補償及電壓電流矯正。
9．整機測量標準不確定度：≤ 2%（國內其它廠家誤差為≤ 5% ）
10. 技術參數：
1)． 測量範圍：
電阻率：10的-4次方~10的5 次方Ω-cm
方塊電阻：10的-4次方 ~10的5 次方Ω/□
電阻：10的-4次方 ~10的5 次方Ω
2)． 可測半導體材料尺寸
直徑：5mm-130mm
長度：≤400mm
如果使用手持探針，尺寸範圍可以延伸
3)． 測量方法：
軸向、斷麵均可
4)． 顯示方式：41/2,數顯,極性、過載自動顯示，小數點、單位自動顯示。
5)． 恒流源：
（1） 電流輸出：直流電流0~100 mA
（2） 量程：10、100μA、1、10、100mA
（3） 誤差：±0.5%讀數±1個字
6).四探針測試探頭
(1) 探針間距:1mm
(2) 材料:碳化鎢.探針機械遊移率:±1.0%
7).電源:220±10% 50Hz或60Hz 功耗:＜35W
2．屏幕采用液晶顯示（一代為隻有數碼管顯示），手自一體（自動是標配，手動手持是自選）。
3．匹配電腦接口及軟件(有232接口和USB兩種接口)，讓操作簡便明了化（可直接連接電腦，電腦進行自動運算根據輸入指定厚度，自動比照並修正係數，使被測結果更**，數據可儲藏或刪除，利於使用方保存記錄）,此功能為選配件。
4．二代的測試架采用自動傳感裝置，接近被測物體時實行自動減速，避免了被測物體的損耗和探頭的磨損（**於國內市場上任何一款同類產品的測試架，老一代為手動）。
5. 本儀器測試電阻、電阻率、方塊電阻時，標準係數為隨選擇鍵自動運算，無需另外手工調整，省去了原儀器的諸多麻煩。
6.本儀器的*大分辨率為0.1mΩ。
7．測試探頭為鎢針，市場上多為高速鋼針。
8．每次測量均有內置計算機自動進行溫度補償及電壓電流矯正。
9．整機測量標準不確定度：≤ 2%（國內其它廠家誤差為≤ 5% ）
10. 技術參數：
1)． 測量範圍：
電阻率：10的-4次方~10的5 次方Ω-cm
方塊電阻：10的-4次方 ~10的5 次方Ω/□
電阻：10的-4次方 ~10的5 次方Ω
2)． 可測半導體材料尺寸
直徑：5mm-130mm
長度：≤400mm
如果使用手持探針，尺寸範圍可以延伸
3)． 測量方法：
軸向、斷麵均可
4)． 顯示方式：41/2,數顯,極性、過載自動顯示，小數點、單位自動顯示。
5)． 恒流源：
（1） 電流輸出：直流電流0~100 mA
（2） 量程：10、100μA、1、10、100mA
（3） 誤差：±0.5%讀數±1個字
6).四探針測試探頭
(1) 探針間距:1mm
(2) 材料:碳化鎢.探針機械遊移率:±1.0%
7).電源:220±10% 50Hz或60Hz 功耗:＜35W
軸向、斷麵均可
4)． 顯示方式：41/2,數顯,極性、過載自動顯示，小數點、單位自動顯示。
5)． 恒流源：
（1） 電流輸出：直流電流0~100 mA
（2） 量程：10、100μA、1、10、100mA
（3） 誤差：±0.5%讀數±1個字
6).四探針測試探頭
(1) 探針間距:1mm
(2) 材料:碳化鎢.探針機械遊移率:±1.0%
7).電源:220±10% 50Hz或60Hz 功耗:＜35W
（3） 誤差：±0.5%讀數±1個字
6).四探針測試探頭
(1) 探針間距:1mm
(2) 材料:碳化鎢.探針機械遊移率:±1.0%
7).電源:220±10% 50Hz或60Hz 功耗:＜35W