A掃B掃同時顯示灰度B掃，缺陷直觀可辯
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項 目 |
指 標 |
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產品信息 |
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產品重量（ kg ） |
<2.0 |
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產品外型尺寸（ mm ） |
300 × 180 × 57 （不帶遮光罩） |
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工作溫度（℃） |
-10 ～ +50 |
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存儲溫度（℃） |
-20 ～ +60 |
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語言 |
英語、中文 |
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探頭連接 |
LEMO 或 BNC |
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電池容量（ mAh ） |
聚合物電池 2 × 3.7V 5000mAh |
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電池工作時間（ h ） |
8 |
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快充時間（ h ） |
4.5 左右 |
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電源適配器 |
輸入 100-240 ～ 50/60Hz
輸出 9V DC/ 3 A ～ 4A |
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顯示屏 |
彩色透射式 TFT ， 640x480 |
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基 本 |
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測量單位 |
mm 、 inch 、 m s |
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掃描範圍（ mm ） |
零界麵入射～ 10000 |
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聲速調節（ m/s ） |
600 ～ 16000 |
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探頭延遲（ m s ） |
0.000 ～ 750.000 |
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顯示延遲（ m s ） |
-20 ～ +3400 |
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工作方式 |
單探頭、雙探頭、透射 |
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波形顯示方式 |
A 掃描顯示、灰度 B 掃描顯示、 AB 掃描同時顯示 |
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脈衝發生器 |
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脈衝形式 |
模擬方波 |
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發射電源（ V ） |
200 、 400 、 600 、 1000 |
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發射脈寬（ ns ） |
75 、 100 ～ 500 |
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探頭阻尼 (Ω) |
50 、 100 、 200 、 500 |
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發射重複頻率 (Hz) |
10 ～ 1000 |
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接收器 |
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增益（ dB ） |
0 ～ 110 |
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總帶寬（ MHz ） |
0.1~15 (-3dB) |
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檢波方式 |
正半波、負半波、全波、射頻 |
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垂直線性誤差 |
± 2% |
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放大器精度（ dB ） |
± 1 |
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抑製（ % ） |
屏高的 0 ～ 80 |
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采樣速率（ MHz ） |
80 |
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發射串擾抑製（ dB ） |
大於 80 |
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發射脈衝後盲區（ μs ） |
3.3~10( 與發射有關 ) |
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動態範圍（ dB ） |
100 |
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瞬時分辨力（ dB ） |
32 |
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時基線性 |
不大於全屏寬度的± 0.5% 。 |
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靈敏度餘量 |
≥ 62dB |
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測量及其他 |
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測量閘門 |
2 個獨立測量閘門 |
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檢測方式 |
邊沿、峰值 |
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閘門測量 |
回波的幅值、聲程、深度、投影等 |
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凍結 |
凍結方式有：全凍結、峰值、比較、包絡等方式 |
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AVG 當量計算 |
根據缺陷回波和 AVG 曲線自動計算缺陷當量 |
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DAC 缺陷定量 |
根據缺陷回波和 DAC 曲線對缺陷進行評估 |
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閘門邏輯 |
關、測量、進波報警、失波報警 |
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閘門報警 |
關、即時、保持 .2s 、保持 .5s 、保持 1s 、保持 2s 、鎖存 |
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報警蜂鳴 |
關、開 |
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數據管理，通信及打印 |
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數據存儲 |
50 個探傷參數通道記錄 |
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1000 幅波形圖
（包括 980 幅 A 掃描波形和 20 幅 B 掃描波形） |
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4x2000 幀的動態波形 |
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數據管理 |
實現對通道、波形、動態記錄的存儲、查看、回放操作 |
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上述均可存儲到本地或 U 盤 |
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通信 |
通過 USB 接口與 PC 機通信 |
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打印 |
打印探傷報告 |
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輸出接口 |
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USB OTG 接口 |
USB2.0 Device 與 PC 機通訊接口
USB2.0 Host 接 U 盤或打印機 |
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微型 RS232 接口 |
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電源適配接口 |
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