WYV-S数显折射仪
WYV-S数显折射仪是国内开创的高精度多波长大量程数显折射仪，能对透明或半透明固体或液体物质的折射率，平均色散、部分色散（即能测定706.5nm、656.3nm、589.3nm、546.1nm、486.1nm、435.8nm、434.1nm和404.7 nm等八种常用波长的折射率）和糖溶液的质量分数（Brix）进行快速地测定的仪器。有友好的操作界面、测试速度快、重复性好、有温度修正、数据存储、U盘存储和USB通信接口功能。由于折射率是物质的重要光学常数之一，能借以了解物质的光学性能、纯度等，所以此仪器是科研单位、高等院校和光学玻璃行业必备仪器之一，也广泛应用于石油、化学、制药、制糖、食品工业等行业。
技术参数
折射率测量范围（nD）：1.30000～1.70000（液体）；
折射率测量范围（nD）：1.30000～1.95000（固体）；
多波长：706.5nm、656.3nm、589.3nm、546.1nm、486.1nm、435.8nm、434.1nm和404.7 nm
测量示值误差（nD）：±0.00005；
测量分辨率（nD）：0.000001；
蔗糖溶液质量分数（锤度Brix）读数范围：0～100%；
测量示值误差（锤度Brix）：±0.1%；
测量分辨率（锤度Brix）：0.01%；
温度显示范围：0～80℃；
温度显示分辨率：0.1℃；
输出方式：USB或U盘；
电源：AC220V～240V 频率50Hz±1Hz；
仪器外形尺寸:376mm×230mm×440mm
仪器净重：11Kg；
