产品详情
简单介绍：
ZNTEKFX63雷达物位计ZNTEKFX62，既适用于壁装式，又适用于顶装式。
对于顶装式物位开关，改变“限位点对应频率”大小可改变“限位点”的高低。因此“顶装式物位开关”能方便改变“限位点”的高低；它既能用作上限点物位开关，也能用作下限点物位开关。
详情介绍：
ZNTEKFX63雷达物位计ZNTEKFX62ZNTEKFX63雷达物位计ZNTEKFX62ZNTEKFX63雷达物位计ZNTEKFX62
LW系列电容射频物位测控产品，采用了“电容射频技术”、“数字实物标定技术”及“结料屏蔽技术”，解决了同类产品存在的“难以标定”、“结料失灵”的难题。品种齐全，有“物位变送”、“上、下限控制”、“单限位控制”、“两线制”等多种功能特点的产品，也有耐温、抗腐蚀的产品。适用于颗粒状、粉状物料的料位或液体的液位及油水分界面的检测、变送、控制或报警。
主要技术指标及特点：
仪器部分：显示形式：物位高度（米）；设置形式：点位的对应高度（米）。
精度等级：1.0级。
防护等级：IP65。
工作环境：温度 -20~70℃； 湿度≤90%。
电源电压：AC 220V±10% 50Hz 或DC 24V ；功耗：≤2W。
输出信号：4~20mA电流或0~10mA电流；一组继电器接点输出（触点容量
AC 220V 3A ）。
一、工作原理
雷达物位计/雷达液位计/雷达料位计/智能导波雷达物位计/智能型脉冲雷达物位计发出的高频微波脉冲沿着探测组件（钢缆或钢棒）传播，遇到被测介质，由于介电常数突变，引起反射，一部分脉冲能量被反射回来。发射脉冲与反射脉冲的时间间隔与被测介质的距离成正比,容器中存在两种不同介质，当上面一层的介质介电常数较小，而下面的介质介电常数较大时，高频微脉冲沿着探测组件传播遇到上层介质时，由于其介电常数较小，因而有极少的能量被这一层介面反射，而大部分能量穿透上层介质继续向下传播，遇到两层的介面时，由于下层介质的介电常数较大，因而会有较大的能量被反射回来。因而导波雷达物位计是可以测量两种不同介质的介面，其测量条件是上层介质不导电或其介电常数比下层介质介电常数小10以上。
二、产品特点
1.对于蒸汽不敏感
即使在烟雾、噪音、蒸汽很强烈的情况下，测量精度也不受到影响。
2.不受介质特性变化的影响
被测介质的密度变化或介电常数的变化不会影响测量精度。
3.粘附：没有问题
在测量探头或容器壁上粘附介质不会影响测量结果。
4.容器内安装物
如果采用同轴套管式的ZNTEKFX，测量完全不受容器内安装物的影响，比如：加热管或支撑物等。不需要特殊调试。
5.可以提供不同形式的ZNTEKFX用于不同应用：'
●缆式一用于测量液体介质或固体介质，量程可达60米
●棒式一用于测量液体介质或固体介质，量程可达6米
●同轴套管一用于测量低黏度的液体介质，不受过程条件的影响，量程可达6米
雷达物位计/雷达液位计/雷达料位计/智能导波雷达物位计/智能型脉冲雷达物位计发出的高频微波脉冲沿着探测组件（钢缆或钢棒）传播，遇到被测介质，由于介电常数突变，引起反射，一部分脉冲能量被反射回来。发射脉冲与反射脉冲的时间间隔与被测介质的距离成正比,容器中存在两种不同介质，当上面一层的介质介电常数较小，而下面的介质介电常数较大时，高频微脉冲沿着探测组件传播遇到上层介质时，由于其介电常数较小，因而有极少的能量被这一层介面反射，而大部分能量穿透上层介质继续向下传播，遇到两层的介面时，由于下层介质的介电常数较大，因而会有较大的能量被反射回来。因而导波雷达物位计是可以测量两种不同介质的介面，其测量条件是上层介质不导电或其介电常数比下层介质介电常数小10以上。
二、产品特点
1.对于蒸汽不敏感
即使在烟雾、噪音、蒸汽很强烈的情况下，测量精度也不受到影响。
2.不受介质特性变化的影响
被测介质的密度变化或介电常数的变化不会影响测量精度。
3.粘附：没有问题
在测量探头或容器壁上粘附介质不会影响测量结果。
4.容器内安装物
如果采用同轴套管式的ZNTEKFX，测量完全不受容器内安装物的影响，比如：加热管或支撑物等。不需要特殊调试。
5.可以提供不同形式的ZNTEKFX用于不同应用：'
●缆式一用于测量液体介质或固体介质，量程可达60米
●棒式一用于测量液体介质或固体介质，量程可达6米
●同轴套管一用于测量低黏度的液体介质，不受过程条件的影响，量程可达6米