产品详情
简单介绍：
雷达物位计ZNTEKPS67，既适用于壁装式，又适用于顶装式。
对于顶装式物位开关，改变“限位点对应频率”大小可改变“限位点”的高低。因此“顶装式物位开关”能方便改变“限位点”的高低；它既能用作上限点物位开关，也能用作下限点物位开关。
详情介绍：
雷达物位计ZNTEKPS67雷达物位计ZNTEKPS67雷达物位计ZNTEKPS67
工作原理
雷达物位计发射能量很低的极短的微波脉冲通过天线系统发射并接收。雷达波以光速运行。运行时间可以通过电子部件背转换成物位信号。一种特殊的时间延伸方法可以确保极短时间内稳定和的测量。
即使在存在虚假反射的时候，新的微处理技术和的ECHOFOX-软件也可以准确地分析出物位回波。
通过输入容器尺寸，可以将上空距离值转换成与物位成正比的信号。仪表可以空仓调试。
LW系列电容射频物位测控产品，采用了“电容射频技术”、“数字实物标定技术”及“结料屏蔽技术”，解决了同类产品存在的“难以标定”、“结料失灵”的难题。品种齐全，有“物位变送”、“上、下限控制”、“单限位控制”、“两线制”等多种功能特点的产品，也有耐温、抗腐蚀的产品。适用于颗粒状、粉状物料的料位或液体的液位及油水分界面的检测、变送、控制或报警。
主要技术指标及特点：
仪器部分：显示形式：物位高度（米）；设置形式：点位的对应高度（米）。
精度等级：1.0级。
防护等级：IP65。
工作环境：温度 -20~70℃； 湿度≤90%。
电源电压：AC 220V±10% 50Hz 或DC 24V ；功耗：≤2W。
输出信号：4~20mA电流或0~10mA电流；一组继电器接点输出（触点容量
AC 220V 3A ）。
安装结构：与传感器一体化结构。顶吊式安装。
探极部分：普 通 型：仓内介质温度：-20~70℃。 仓内压力：常压。
仓内介质：无腐蚀性，一般粘度，一般冲击。
耐 温 型：仓内介质温度：-20~200℃。 仓内压力：小于1Mpa。
仓内介质：强腐蚀，高粘度。
安装接头：R1.5 （ZG11/2”）管螺纹；或依据用户要求制作。
探极长度：杆式: 0.35M~9.99M；缆式：0.50M~9.99M。
特 点：限位点以“高度”设置；既可充当两只物位开关，又可充当一只上下限回差控制的物位控制器。
产品特点
1.不受温度和压力的影响
微波的运行几乎不受环境温度和压力的影响，因此雷达物位计非常适用于复杂的过程条件。过程压力从真空到160bar，过程温度-40...400℃，测量没有问题。
2.不受被测介质特性的影响
更换被测介质的成分或更换整个介质，不会影响测量结果，不需要重新调试。
3.使用频率
ZNTEK的雷达物位计使用两种不同的频率范围，因此应用范围可以更广。K-频段的仪表的频率范围为20GHz以上。通过使用这个频率范围，天线可以更小，过程连接也可以更小。由于信号聚焦好，测量系统的精度更高。C-频段的仪表采用低频，大约6GHz。在一般情况下，天线系统上粘附介质，污染或介质表面产生泡沫不影响测量。
4.功能的稳定性(SIL)
雷达物位计ZNTEKPS61，62，65，67，68和69可以用于对测量性有特殊要求的应用。
5.仪表选型
ZNTEKPS60系列雷达物位计可以用于任何应用。我们可以提供不同的天线，这样就产生不同的发射角、测量范围和测量特性。正确的仪表选型要根据应用条件。
6.服务维护简便
由于采用非接触式测量，ZNTEKPS的服务和维护都非常简便。
1.不受温度和压力的影响
微波的运行几乎不受环境温度和压力的影响，因此雷达物位计非常适用于复杂的过程条件。过程压力从真空到160bar，过程温度-40...400℃，测量没有问题。
2.不受被测介质特性的影响
更换被测介质的成分或更换整个介质，不会影响测量结果，不需要重新调试。
3.使用频率
ZNTEK的雷达物位计使用两种不同的频率范围，因此应用范围可以更广。K-频段的仪表的频率范围为20GHz以上。通过使用这个频率范围，天线可以更小，过程连接也可以更小。由于信号聚焦好，测量系统的精度更高。C-频段的仪表采用低频，大约6GHz。在一般情况下，天线系统上粘附介质，污染或介质表面产生泡沫不影响测量。
4.功能的稳定性(SIL)
雷达物位计ZNTEKPS61，62，65，67，68和69可以用于对测量性有特殊要求的应用。
5.仪表选型
ZNTEKPS60系列雷达物位计可以用于任何应用。我们可以提供不同的天线，这样就产生不同的发射角、测量范围和测量特性。正确的仪表选型要根据应用条件。
6.服务维护简便
由于采用非接触式测量，ZNTEKPS的服务和维护都非常简便。