产品详情
简单介绍：
OmniES-Plasma等离子体发射光谱测量系统
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详情介绍：
OmniES-Plasma等离子体发射光谱测量系统
● 该系统用于测量等离子体发射光谱测量，采用模块化设计
● 采用光纤导光或空间光耦合
● 可**定位测量空间位置（选配功能）
● 测量光谱范围：200-2500nm或1μm-14μm
● 光谱分辨率：优于0.05nm（@1200g/mm光栅）
● 波长准确度：优于±0.2nm
● 波长重复性：优于±0.1nm
● 光谱仪控制软件包含滤光片轮自动控制功能、光谱曲线绘制功能、全自动测量、
数据运算、保存及打印等功能
OmniES-Blackbody 黑体辐射源光谱测量系统
● 该系统用于测量黑体辐射源的相对光谱或**光谱辐射度曲线，采用模块化设计
● 采用光纤导光或空间光耦合
● 测量光谱范围：200-2500nm或1μm-14μm
● 光谱分辨率：优于0.05nm（@1200g/mm光栅）
● 波长准确度：优于±0.2nm
● 波长重复性：优于±0.1nm
● 光谱仪控制软件包含滤光片轮自动控制功能、光谱曲线绘制功能、全自动测量、数据运算、保存及打印等功能
OmniES-Laser 激光光源光谱测量系统
● 该系统用于测量激光光源的光谱曲线，采用模块化设计
● 采用光纤导光、空间光耦合或积分球耦合
● 测量光谱范围：200-2500nm或1μm-14μm
● 光谱分辨率：优于0.05nm（@1200g/mm光栅）
● 波长准确度：优于±0.2nm
● 波长重复性：优于±0.1nm
● 光谱仪控制软件包含、光谱曲线绘制功能、全自动测量、自动峰值显示、自动光谱带宽显示、保存及打印等功能