产品描述
特点：
测定物质的熔点。主要用于**、化工、纺织、染料、香料等晶体有机化合物之测定，显微镜观察。既可用毛细管法测定，又可用载玻片-盖玻片法（热台法）测定。
主要技术参数：
熔点测量范围：室温至320℃
测量重复性：±1℃ （在＜200℃ 时）
±2℃（在20 .0℃ 一320℃ 时）
温度显示*小值：0.1℃
熔点观察方式 单目显微镜
光学放大倍数 40×
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范围：室温~320℃，温度数显*小示值0.1℃，示值误差：在环境温度为23℃±5℃时，应符合下列要求：（1）在＜200℃范围内为±0.5℃时（2）在200-320℃范围为±0.8℃时，示值重复性：升温速率为1.0℃/min，样品的不确定度为0.3℃，线性升温速率误差不大于名义值的10% |
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范围：40~280℃ 重复性：0.3℃ *小数单位:0.1℃（可同时测试3个样品） |
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**熔点仪WRR-Y |
WRR-Y |
传温液水与硅油两用（满足*新药典的要求），熔点测量范围：用水做传温液40-90℃，用硅油做传温液60-280℃，温度数显*小示值：0.1℃，示值误差：＜200℃范围时±0.4℃；≥200℃范围时±0.7℃；重复性：0.3℃；升温速率0.5、1.0、1.5、3.0℃/min四档 |
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WRS-1B(1A) |
范围:室温~300℃ *小读数:0.1℃ 接口输出RS232、通过PC显示熔化曲线 |
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数字熔点仪(微机、点阵液晶) |
同上(直接显示熔化曲线及测量结果) |
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同上(可同时测三个样品) |
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范围：室温~300℃，温度数显*小值：0.1℃，线性升温速度率:0.1℃/min之间任意连续， 测定熔点的示值误差：≤200℃;±0.4℃;＞200℃;±0.7℃，重复性：0.3℃ |
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范围：室温-400℃，“起始温度”设定时间：50-400℃，不大于5min；设定时间：400-50℃，不大于7min；温度数显*小示值0.1℃；线性升温速率：0.1-20.0℃/min之间任意连续可选；重复性0.3 |
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范围：室温~300℃ 重复性：0.4℃；*小读数单位:0.1℃；(附XSP-8CA三目生物显微镜，CCD)（显示部分选购），总放大倍数40-1600X，调焦25mm，微动格值0.002mm；移动范围：横向50mm 纵向70mm |
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全套显微热分析仪2 (程控、数显) (显微熔点仪) |
WRX-1S |
范围：室温~300℃；重复性：0.4℃；*小读数单位:0.1℃；（配XTZ-TV视屏式连接变倍体视显微镜） 变倍范围：0.7X 4.5X；总放大率：28X 180X |
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全套显微热分析仪3 (程控、数显) (显微熔点仪) |
WRX-1S |
范围：室温~300℃；重复性：0.4℃；*小读数单位:0.1℃；（配59XC三目显微镜） 总放大倍数：40X～630X；电子目镜：130万像素 |
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全套显微热分析仪4 (程控、数显) (显微熔点仪) |
WRX-1S |
范围：室温~300℃；重复性：0.4℃；*小读数单位:0.1℃；（配69XCL透反射偏光显微镜） 总放大倍数：50X～600X；物镜转换器；五孔；电子目镜：130万像素 |
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显微熔点仪(数显) |
SGW® X-4 |
范围：室温~320℃，*小读数单位:1℃， 重复性：±1℃(＜200℃)，±2℃(≥200℃) |
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显微熔点仪(数显) |
SGW® X-4A |
范围：室温~320℃，*小读数单位:0.1℃， 重复性：±1℃(＜200℃)，±2℃(≥200℃) |
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显微熔点仪(数显) |
SGW® X-4B |
范围：室温~320℃，*小读数单位:0.1℃， 重复性：±1℃(＜200℃)，±2℃(≥200℃) 双目体式显微镜，光学放大倍数：40倍-100倍 |
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范围:室温~300℃ *小读数单位:0.1℃ |